设计应用

基于STM32的非接触物体尺寸形态测量系统

作者:徐贤炜,郭履宝,刘子国,夏 鲲
发布日期:2021-12-01
来源:2021年电子技术应用第12期

0 引言

    工件尺寸检测是工业生产中最基础的质量控制手段之一[1]。随着电子信息地飞速发展,测量方法的换代越来越快。对于工件的检测,传统的人工测量技术已经无法满足所需要的工件的测量精确[2]非接触测量是以光电、电磁等技术为基础,在不接触被测物体表面的情况下,得到物体表面参数信息的测量方法。典型的非接触测量方法有激光三角法、电涡流法、超声测量法、机器视觉测量等[3]。随着机器视觉的发展,视觉测量由于其测量效率高,检测范围大逐渐被重视。但不可避免地,非接触测量往往受环境因素的干扰极大,需要在特定的环境下才能完成精准测量。

    本文提出一种基于STM32单片机的非接触物体尺寸形态测量系统。系统采用OpenMV作为视觉检测,云台作为执行机构,通过非接触式传感器,实现对物体尺寸和相对位置的快速测量,可以做到实时在线、非接触和高精度测量;同时也可以避免测量过程中人为产生的错误,实现生产的连续性,提高生产的自动化程度。尤其在疫情爆发期间,非接触式测量能够大大提高使用安全性。




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作者信息:

徐贤炜,郭履宝,刘子国,夏  鲲

(上海理工大学 机械工程学院,上海200093)




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非接触测量 STM32 舵机云台 OpenMV