0 引言
随着集成电路工艺的快速发展，芯片的研究设计周期亦在不断缩短[1]。四线制的JTAG接口调试依然是大多数芯片设计采用的调试手段。JTAG协议功能的好坏很大程度上决定了流片回来后的芯片是否具有可调试状态。不同芯片的JTAG协议不尽相同，基于TestBench或者原型验证的方式，在验证JTAG协议上存在着验证效率低下、可移植性差或者无法完全复制芯片的JTAG功能，这对JTAG协议验证调试提出了巨大的挑战。众所周知，通用验证方法学UVM在IC验证领域得到了全面广泛的运用[2-3]，其所具有的封装、继承、面向对象等这些优点，并且包含大量功能全面的组件和基类，同时又拥有factory、config、TLM等机制[4-8]，使得其具有良好的移植特性。而C语言作为一种悠久且优秀的语言，编写测试用例较为便利。
综合二者的优势，对比传统的验证方式，方案中验证JTAG协议方式犹如上位机IDE通过JTAG仿真器调试芯片一样便利。C语言编程可封装大量函数供验证人员调用，利于仅熟悉C语言编程的开发和验证人员一同参与到验证JTAG调试协议中。更有甚者IDE设计开发亦可同步进行开发。通过该种方法来验证JTAG功能，明显优于依赖FPGA原型验证或者设计验证人员写TestBench来验证其功能的方法。
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作者信息：
陶青平，沈婧
（中国电子科技集团公司第五十八研究所，江苏 无锡 214035）
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