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单极性ADC静态参数的测试方法

作者：朱清，韦凯，陶青平
发布日期：2024-02-21
来源：电子技术应用

引言

随着MCU和CPU的发展，集成模数转换器的芯片越来越多，性能也越来越好，快速有效并且稳定地验证高性能片上模数转换器（Analog-to-Digital Converter，ADC）的性能变得尤为重要。INL和DNL[1-2]作为模数转换器静态参数的重要指标，成为评价片上模数转换器性能好坏的关键。但是相比于单芯片ADC测试，片上集成ADC测试[3-4]的干扰因素变多，测试的环境更加复杂，对测试方法和测试设备的要求更加严苛。


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作者信息：

朱清，韦凯，陶青平

中国电子科技集团公司第五十八研究所， 江苏 无锡 214035


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