引言
随着国内航空工业的飞速发展,国内涌现了多款自主设计研制的军用飞机。航空发动机作为飞机动力核心部件,舱内环境复杂,随着飞行工况的变化,舱内温度、气压等环境参数变化迅速,需要实时监测,并将数据反馈至飞控计算机平台。在此背景下,通用国产芯片逐渐难以满足行业需求,自主正向设计的航空发动机专用环境监测芯片应运而生,此类芯片一般以专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit, ASIC)为核心,配有电源、接口芯片,采用系统级封装技术(System in Package, SiP),实现核心处理系统芯片的设计,具有极强的定制化属性。此类芯片测试时,需要模拟发动机舱的实际工作环境,在研制阶段,难以像通用型芯片采用自动化测试设备(Automatic Test Equipment, ATE)进行测试。
芯片测试[1]技术作为保证芯片性能和质量的关键环节,其重要性不言而喻。目前,国内在芯片自动化测试系统领域基础较弱[2],多数自动化测试都基于国外引进的测试设备[3]开展,ATE测试机[4]有别于定制化测试系统,测试程序在线修改困难,适合批量化测试。在航空发动机专用环境监测芯片研发阶段的测试过程中,需要根据实际测试结果,实时调整测试方法、修改程序等。通过对测试数据分析,以此对待测芯片进行参数修正。必要时,会进行芯片改版设计,因此ATE测试并不适用实验环境下的自动化测试[5-6]。所以,实验环境下,提供一套成本低、灵活性高、测试范围广的自动化测试系统[7-9]成为了亟待解决的问题。
本文针对航空发动机专用环境监测芯片的功能测试,设计并实现了一种自动化测试系统,通过上位机[10-11]界面控制,可以实现航空发动机专用环境监测芯片的三温功能测试。
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作者信息:
宋晨阳,王一卓,蔡阳阳
(中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214072)