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基于ST2516测试机的CD4511芯片性能测试

作者:朱东南
发布日期:2026-10-14
来源:集成电路应用

引言

集成电路作为现代高新技术产业的基石,已广泛应用于航空航天、国防军事、工业生产、医疗卫生等关键领域。集成电路测试是大规模集成电路产业不可或缺的环节,直接影响芯片质量与产业化效益。当前,集成电路测试核心技术仍掌握在海外企业手中,测试设备采购成本居高不下、专业技术人才供给不足等问题,持续制约着国内集成电路产业高质量发展。近年来,长川科技、华峰测控等本土测试设备企业持续攻关前沿核心技术,同时国内涌现出一批具备创新能力的芯片测试厂商,共同推动我国集成电路测试技术实现稳步发展[1-3]。


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作者信息:

朱东南

(南京高等职业技术学校,江苏南京210019)

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