设计应用

一种基于FPGA的eMMC寿命验证的方法

作者：虞亚君1，王小龙1，2，邵春伟1，2，郝国峰1，2，沈小波1，2

发布日期：2024-02-21

来源：电子技术应用

引言

eMMC（Embedded Multi Media Card）存储颗粒以其尺寸小、速度高、易开发的特点[1]，非常适合用作嵌入式数据存储介质。用在机载记录装置时，实时记录大量飞行图像数据，待飞行结束后再将数据卸载回收，提供给相关机构进行研究。用在汽车驾驶辅助系统时，实时记录视频摄像头、激光测距器等探测的环境数据，经过控制器运算，做出行驶路径的预测与规划[2]。虽然eMMC具备坏块管理能力，但如果长时间高密度读写，会出现数据记录出错情况。在系统研发阶段，需提前验证其实际使用寿命，靠近寿损之前及时更换芯片，以确保数据记录无误。本文设计的eMMC寿命验证方法，使用FPGA作为读写eMMC的主控器，可同时验证4片eMMC寿命，硬件结构简单、通用性好、观测性强。

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作者信息：

虞亚君1，王小龙1，2，邵春伟1，2，郝国峰1，2，沈小波1，2

1.无锡华普微电子有限公司，江苏无锡 214035；2.中科芯集成电路有限公司，江苏无锡 214072

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